Laboratorie til avanceret materialekarakterisering
FORCE Technologys materialelaboratorie råder over noget at det mest avancerede udstyr til avanceret overfladekarakterisering med tilhørende materialeanalyser.
Vi har desuden adgang til alle de ”konventionelle” kemiske undersøgelser, som vores kemiske laboratorium udbyder, således at vi kan udføre supplerende analyser i forbindelse med avancerede karakteriseringer af diverse materialer, partikler eller forureninger. Dette, sammen med vores materialespecialister indenfor stort set alle materialeområder, gør at du ikke blot får analyseret dit materiale (partikel eller forurening), men også får en hurtig og sikker udredning af materialerelaterede problemer.
Hvilke materialer og overflader kan vi analysere og karakterisere?
Vi kan analysere og karakterisere alle faste materialer som f.eks. metaller, salte, fibre, plast, papir, byggematerialer og coatings. Vi har ligeledes mulighed for at lave afstøbninger (replika) af komponenter og procesudstyr der er utilgængelige for en direkte analyse eller som ikke kan udtages af andre grunde. Disse afstøbninger kan herefter karakteriseres indgående i vores laboratorie med hensyn til bl.a. struktur og ruhed.
Vores faciliteter indenfor højtspecialiserede analyser på mange forskellige og komplicerede overflader omfatter følgende:
Skanning Elektron Mikroskopi (SEM) med mikroanalyse
Vi råder over to SEM’er hvori man kan udføre materialeanalyser i nanometeropløsning.
I den mest avancerede er der indbygget en ionkilde (Focused Ion Beam – FIB), som muliggør analyser på og under overfladen.
SEM'erne er udstyret med nogle meget avancerede detektorer, der gør os i stand til at foretage følgende elementar- og strukturanalyser på meget små partikler eller områder:
- EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) - elementanalyse i volumener ned til 1µm3
- µ-XRF (µ-X-Ray Flourescens spektroskopi) - analyser i dybden (100-1000 µm)
- WDS (Wavelength Dispersive Spectroscopy) - analyser ned til ppm-niveau
- EBSD (Electron BackScattered Diffraction) - mikrostrukturanalyse
Vi råder ligeledes over et ESEM (Environmental Skanning Elektron Mikroskop), som bl.a. kan karakterisere prøveemner, der er fugtige eller vandmættede. Dette muliggør analyser af eksempelvis biologisk materiale, uden dette udtørres.
Udstyrene har mange anvendelsesmetoder, da man både kan visualisere og analysere (for bl.a. grundstoffer). Vi har derfor mulighed for karakterisering af et meget bredt spektrum af materialer i relation til undersøgelser af nye processer, fejlfinding, skades- og havarianalyser samt til en lang række andre formål, hvor mikroanalyse og visualisering er essentiel.
Avanceret optisk 3D profilometri med AFM (Atomic Force Microscopy)
Udstyret kan opmåle og visualisere overfladetopografier af stort set alle faste materialer i størrelsen fra nm til cm. Udstyret er meget velegnet til at støtte virksomheder i udviklings- og designprocesser af nye materialer, samt i forbindelse med kvalitetssikring af disse. Højspecialiserede ruhedsmålinger helt ned i nano-niveau, også på ikke-plane emner kan eksempelvis udføres på udstyret.
Læs mere
Services og ydelser tilknyttet faciliteten
