
Overflademåling på mikro- og nanometerskala
DFM tilbyder kalibrering af gitterperioder og stephøjder på overflader på mikrometer- og nanometerskala samt en alsidig karakterisering af overfladers optiske, elektriske og mekaniske egenskaber.

Kalibrering af fiberoptiske instrumenter
DFM har faciliteter til kalibrering af instrumenter til analyse af fiberoptiske netværk, singlemode OTDR og fiberoptiske attenuatorer

Skatterometriske og Ellipsometriske målinger
DFM tilbyder skatterometriske og ellipsometriske opmålinger af tyndfilm med tykkelser mellem 50 nm og 100 µm, samt opmåling af gitre med perioder fra 300 nm til 1000 nm og højder fra 100 nm til 2000 nm.

Måling af masse
DFM tilbyder kalibrering af OIML klasse E1 lodder med nominelle masser i området 1 mg – 20 kg med en usikkerhed (k=2) mindre end 1/3 af loddernes tolerance. Kalibreringerne er akkrediterede af DANAK i

Metallografisk laboratorie
I FORCE Technologys metallografiske laboratorie udføres karakterisering og skadesanalyse af metalliske komponenter og materialer vha. klassiske makrostruktur- og mikrostrukturundersøgelser.

Metallurgi og Prøvning
Teknologisk Instituts materialeteknologiske laboratorier og udstyr kombineret med vores brede ekspertise inden for metalliske materialer udgør en unik platform for at sammensætte de løsninger, som skal styrke den danske industri.