GTS-institutterne bringer ny teknologisk viden i spil i danske virksomheder

Læs mere

Danmarks teknologiske infrastruktur

Ultraviolet radiometri

Ultraviolet stråling (uv-stråling) dækker over stråling med bølgelængder fra 100 nm til 400 nm. I dette bølgelængdeinterval er fotonerne energirige og kan påvirke eller direkte bryde kemiske forbindelser. Dette åbner for mange industrielle og sundhedsmæssige anvendelser af uv-stråling bl.a. til sterilisering og hærdning. Uv-stråling kan også gøre skade bl.a. på biologisk væv og materialer. Optimal anvendelse af uv-stråling kræver derfor en nøjagtig karakterisering af lyskilden og den strålingsdosis, som et emne modtager.

Eksempelvis ændrer faren for skade på DNA og risikoen for hudkræft sig med en faktor 1000 i et bølgelængdeinterval på ca. 25 nm omkring 310 nm. En korrekt karakterisering af den fysiologiske effekt af f.eks. solarielys stiller derfor store krav til udstyr og metode.

DFM har en facilitet til nøjagtig måling af spektral irradians i bølgelængdeintervallet fra 280 nm til 800 nm samt til felttest af solarierstråling. DFMs målinger er sporbare til det finske Nationale Metrologi Institut, MIKES, og målingerne er DANAK akkrediterede.

Målefaciliteterne omfatter:

  • Måling af spektral irradians og radians i bølgelængdeområdet fra 280 nm til 800 nm.
  • Felttest af solariers effektive irradians.

Målgruppen er lysvirksomheder og kontrollerende myndigheder.



Læs mere



Services og ydelser tilknyttet faciliteten


Del med dine kolleger
Fra samme kategori

3D-print i storskala

Skandinaviens største storskala metal 3D-print facilitet befinder sig på FORCE Technologys lokation på Lindø.

Metallurgi og Prøvning

Teknologisk Instituts materialeteknologiske laboratorier og udstyr kombineret med vores brede ekspertise inden for metalliske materialer udgør en unik platform for at sammensætte de løsninger, som skal styrke den danske industri.

Laboratorie til avanceret materialekarakterisering

FORCE Technologys materialelaboratorie råder over noget at det mest avancerede udstyr til avanceret overfladekarakterisering med tilhørende materialeanalyser.

Skatterometriske og Ellipsometriske målinger

DFM tilbyder skatterometriske og ellipsometriske opmålinger af tyndfilm med tykkelser mellem 50 nm og 100 µm, samt opmåling af gitre med perioder fra 300 nm til 1000 nm og højder fra 100 nm til 2000 nm.

Overflademåling på mikro- og nanometerskala

DFM tilbyder kalibrering af gitterperioder og stephøjder på overflader på mikrometer- og nanometerskala samt en alsidig karakterisering af overfladers optiske, elektriske og mekaniske egenskaber.

Akustikkalibrering

DFM udbyder kalibrering af akustiske transducere, herunder mikrofoner, lydkalibratorer og øresimulatorer. DFMs ydelser dækker et bredt frekvensområde fra 2 Hz op til 150 kHz og er akkrediterede i henhold til ISO 17025