GTS-institutterne bringer ny teknologisk viden i spil i danske virksomheder

Læs mere

Danmarks teknologiske infrastruktur

Ultraviolet radiometri

Ultraviolet stråling (uv-stråling) dækker over stråling med bølgelængder fra 100 nm til 400 nm. I dette bølgelængdeinterval er fotonerne energirige og kan påvirke eller direkte bryde kemiske forbindelser. Dette åbner for mange industrielle og sundhedsmæssige anvendelser af uv-stråling bl.a. til sterilisering og hærdning. Uv-stråling kan også gøre skade bl.a. på biologisk væv og materialer. Optimal anvendelse af uv-stråling kræver derfor en nøjagtig karakterisering af lyskilden og den strålingsdosis, som et emne modtager.

Eksempelvis ændrer faren for skade på DNA og risikoen for hudkræft sig med en faktor 1000 i et bølgelængdeinterval på ca. 25 nm omkring 310 nm. En korrekt karakterisering af den fysiologiske effekt af f.eks. solarielys stiller derfor store krav til udstyr og metode.

DFM har en facilitet til nøjagtig måling af spektral irradians i bølgelængdeintervallet fra 280 nm til 800 nm samt til felttest af solarierstråling. DFMs målinger er sporbare til det finske Nationale Metrologi Institut, MIKES, og målingerne er DANAK akkrediterede.

Målefaciliteterne omfatter:

  • Måling af spektral irradians og radians i bølgelængdeområdet fra 280 nm til 800 nm.
  • Felttest af solariers effektive irradians.

Målgruppen er lysvirksomheder og kontrollerende myndigheder.



Læs mere



Del med dine kolleger
Fra samme kategori

FABLAB Teknologisk Institut

FABLAB TI giver borgerne fri adgang til fabrikationsværkstedets maskiner, teknologier og kompetencer. FABLAB TI har en klar mission om at føre flere ideer til markedet.

Faciliteter til måleudstyrskalibrering

På akkrediteterede laboratorier i Brøndby og Vejen foretager FORCE Technology en lang række standardkalibreringer og verifikationer, ligesom her rådgives om kalibrering og måleudstyr.

Nano-coating med MVD-udstyr

Teknologisk Institut har faciliteter, som virksomheder kan anvende til nano-coating. Nano-coatning lægger sig som en ultratynd film over produktet, så det ikke bliver ødelagt ved brug.

Skatterometriske og Ellipsometriske målinger

DFM tilbyder skatterometriske og ellipsometriske opmålinger af tyndfilm med tykkelser mellem 50 nm og 100 µm, samt opmåling af gitre med perioder fra 300 nm til 1000 nm og højder fra 100 nm til 2000 nm.

Måling af masse

DFM tilbyder kalibrering af OIML klasse E1 lodder med nominelle masser i området 1 mg – 20 kg med en usikkerhed (k=2) mindre end 1/3 af loddernes tolerance. Kalibreringerne er akkrediterede af DANAK i

Kemisk karakterisering af medicinsk udstyr

Virksomheder har hos Teknologisk Institut adgang til laboratoriefaciliteter, hvor det bl.a. er muligt at få foretaget karakterisering og biologisk vurdering af medicinsk udstyr.