Ramanspektroskopi
DFM tilbyder, ved brug af Ramanspektroskopi, kvalitativ og kvantitativ bestemmelse af udvalgte materialer på fast form eller i opløsninger. Endvidere tilbydes rådgivning omkring metoder og udstyr til
Partikeltællerkalibrering
DFM har faciliteter til kalibrering af partikeltællere, som måler partikelantalskoncentration i luft og partikelstørrelse fra 100 nm - 5 μm. Kalibreringsydelserne er DANAK akkrediterede i henhold til ISO 17025
Overflademåling på mikro- og nanometerskala
DFM tilbyder kalibrering af gitterperioder og stephøjder på overflader på mikrometer- og nanometerskala samt en alsidig karakterisering af overfladers optiske, elektriske og mekaniske egenskaber.
Måling af masse
DFM tilbyder kalibrering af OIML klasse E1 lodder med nominelle masser i området 1 mg – 20 kg med en usikkerhed (k=2) mindre end 1/3 af loddernes tolerance. Kalibreringerne er akkrediterede af DANAK i
Karakterisering af overflader
På Teknologisk Institut findes faciliteter til analyse og karakterisering af den yderste overflade på materialeprøver.
Måling af Relative Intensity Noise (RIN)
DFM tilbyder udmåling af Relative Intensity Noise (RIN), en parameter til karakterisering af lasere. RIN er den relative optisk effekttæthed over et specificeret frekvensområder, opgivet i dBc/Hz