GTS-institutterne bringer ny teknologisk viden i spil i danske virksomheder

Læs mere

Danmarks teknologiske infrastruktur

Karakterisering af overflader

På Teknologisk Institut udfører vi analyse og karakterisering af den yderste overflade på materialeprøver. 

Vi kan bl.a. identificere fremmedlegemer i materialet og undersøge, om limbarheden i materialets overflade er god nok. Vi anvender forskellige teknikker og kombinerer resultaterne, så virksomheder får en samlet løsning.

Analyse af grundstofsammensætningen 
Vi identificerer grundstofsammensætningen i de yderste 5-10 nanometer af et produkts overflade. Det sker med Røntgen-fotoelektronspektroskopi (XPS).

Vi anvender typisk XPS i undersøgelser, hvor der er mistanke om forurening. Vi bruger også teknikken til at identificere coatinger på overflader og til at kontrollere overflader for bestemte sammensætninger.

Overfladespecifik analyse af kemien 
Vi udfører kemisk identifikation af de yderste 1-2 nanometer af overfladen. Her anvender vi Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS). 

Med teknikken detekterer vi ioner, der indikerer, hvad der befinder sig på overfladen. Det er især nyttigt, når vi undersøger overflader for forurening som sæberester, fedt, silikoneolie, protein eller slipmidler.

Vi kan også skelne mellem materialer, der umiddelbart kan se ens ud, men ikke er det. Leder vi fx efter silicium på en baggrund af silicium, kan vi se forskel på, om der er tale om silikoneolie eller silikat fra glas.

TOF-SIMS er også velegnet til at undersøge fordelingen af forskellige kemiske forbindelser på en overflade eller i et tværsnit.



Læs mere



Del med dine kolleger
Fra samme kategori

Partikeltællerkalibrering

DFM har faciliteter til kalibrering af partikeltællere, som måler partikelantalskoncentration i luft og partikelstørrelse fra 100 nm - 5 μm. Kalibreringsydelserne er DANAK akkrediterede i henhold til ISO 17025

Kalibrering af fiberoptiske instrumenter

DFM har faciliteter til kalibrering af instrumenter til analyse af fiberoptiske netværk, singlemode OTDR og fiberoptiske attenuatorer

Metallografisk laboratorie

I FORCE Technologys metallografiske laboratorie udføres karakterisering og skadesanalyse af metalliske komponenter og materialer vha. klassiske makrostruktur- og mikrostrukturundersøgelser.

Designpsykologisk testcenter

Designpsykologisk Testcenter hos FORCE Technology i Lyngby har den seneste teknologi indenfor psyko-fysiologiske målinger

Kamerakalibrering

DFM udbyder rumlig kalibrering af billeddannende kameraer, samt spektral kalibrering af hyperspektrale kameraer og farvesensorer

Batterilaboratorium

På Teknologisk Institut kan virksomheder få testet batteriers brugsmønstre og temperaturer og måle batteriers spændingskurver, sikkerhed og degradering for at beregne levetiden.