![](/media/1234/overflade.jpg?width=500&height=255&&mode=crop)
Overflademåling på mikro- og nanometerskala
DFM tilbyder kalibrering af gitterperioder og stephøjder på overflader på mikrometer- og nanometerskala samt en alsidig karakterisering af overfladers optiske, elektriske og mekaniske egenskaber.
![](/media/1340/analyse-og-dispergeringer.jpg?width=500&height=255&&mode=crop)
Analyse af partikler og dispergeringer
Hos Teknologisk Institut er vi eksperter indenfor partikelkarakterisering og har mere end 25 års erfaring indenfor karakteriseringsløsninger.
![](/media/1285/kalibreringluftlab.jpg?width=500&height=255&&mode=crop)
Luftlaboratoriet
Luftlaboratorium til akkrediteret måling af luftforurening.
![](/media/1190/meter.jpg?width=500&height=255&&mode=crop)
Længdekalibrering
DFM har faciliteter til kalibrering af længdenormaler og længdemåleudstyr på højeste nøjagtighedsniveau. Kalibreringsydelserne er DANAK akkrediterede i henhold til ISO 17025
![](/media/1295/visiontjek.jpg?width=500&height=255&&mode=crop)
Vision Lab
Teknologisk Institut har i Vision Lab i Odense flere muligheder for effektivt at hjælpe virksomheder videre med automatiseret kvalitetskontrol, robot-vision eller andre udfordringer.
![](/media/1221/rin-billede.jpg?width=500&height=255&&mode=crop)
Måling af Relative Intensity Noise (RIN)
DFM tilbyder udmåling af Relative Intensity Noise (RIN), en parameter til karakterisering af lasere. RIN er den relative optisk effekttæthed over et specificeret frekvensområder, opgivet i dBc/Hz