GTS-institutterne bringer ny teknologisk viden i spil i danske virksomheder

Læs mere

Danmarks teknologiske infrastruktur

Karakterisering af overflader

På Teknologisk Institut udfører vi analyse og karakterisering af den yderste overflade på materialeprøver. 

Vi kan bl.a. identificere fremmedlegemer i materialet og undersøge, om limbarheden i materialets overflade er god nok. Vi anvender forskellige teknikker og kombinerer resultaterne, så virksomheder får en samlet løsning.

Analyse af grundstofsammensætningen 
Vi identificerer grundstofsammensætningen i de yderste 5-10 nanometer af et produkts overflade. Det sker med Røntgen-fotoelektronspektroskopi (XPS).

Vi anvender typisk XPS i undersøgelser, hvor der er mistanke om forurening. Vi bruger også teknikken til at identificere coatinger på overflader og til at kontrollere overflader for bestemte sammensætninger.

Overfladespecifik analyse af kemien 
Vi udfører kemisk identifikation af de yderste 1-2 nanometer af overfladen. Her anvender vi Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS). 

Med teknikken detekterer vi ioner, der indikerer, hvad der befinder sig på overfladen. Det er især nyttigt, når vi undersøger overflader for forurening som sæberester, fedt, silikoneolie, protein eller slipmidler.

Vi kan også skelne mellem materialer, der umiddelbart kan se ens ud, men ikke er det. Leder vi fx efter silicium på en baggrund af silicium, kan vi se forskel på, om der er tale om silikoneolie eller silikat fra glas.

TOF-SIMS er også velegnet til at undersøge fordelingen af forskellige kemiske forbindelser på en overflade eller i et tværsnit.



Læs mere



Del med dine kolleger