GTS-institutterne bringer ny teknologisk viden i spil i danske virksomheder

Læs mere

Danmarks teknologiske infrastruktur

Karakterisering af overflader

På Teknologisk Institut udfører vi analyse og karakterisering af den yderste overflade på materialeprøver. 

Vi kan bl.a. identificere fremmedlegemer i materialet og undersøge, om limbarheden i materialets overflade er god nok. Vi anvender forskellige teknikker og kombinerer resultaterne, så virksomheder får en samlet løsning.

Analyse af grundstofsammensætningen 
Vi identificerer grundstofsammensætningen i de yderste 5-10 nanometer af et produkts overflade. Det sker med Røntgen-fotoelektronspektroskopi (XPS).

Vi anvender typisk XPS i undersøgelser, hvor der er mistanke om forurening. Vi bruger også teknikken til at identificere coatinger på overflader og til at kontrollere overflader for bestemte sammensætninger.

Overfladespecifik analyse af kemien 
Vi udfører kemisk identifikation af de yderste 1-2 nanometer af overfladen. Her anvender vi Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS). 

Med teknikken detekterer vi ioner, der indikerer, hvad der befinder sig på overfladen. Det er især nyttigt, når vi undersøger overflader for forurening som sæberester, fedt, silikoneolie, protein eller slipmidler.

Vi kan også skelne mellem materialer, der umiddelbart kan se ens ud, men ikke er det. Leder vi fx efter silicium på en baggrund af silicium, kan vi se forskel på, om der er tale om silikoneolie eller silikat fra glas.

TOF-SIMS er også velegnet til at undersøge fordelingen af forskellige kemiske forbindelser på en overflade eller i et tværsnit.



Læs mere



Del med dine kolleger
Fra samme kategori

Måling af optisk effekt

DFM har faciliteter til kalibrering af optiske power metre og detektorer. Power meters måleevne og fotodetektorers responsivitet bestemmes. Kalibreringsydelserne er DANAK akkrediterede i henhold til ISO 17025.

Overflademåling på mikro- og nanometerskala

DFM tilbyder kalibrering af gitterperioder og stephøjder på overflader på mikrometer- og nanometerskala samt en alsidig karakterisering af overfladers optiske, elektriske og mekaniske egenskaber.

Ultraviolet radiometri

DFM tilbyder sporbare målinger af ultraviolet stråling dækkende både laboratorie- og feltmålinger. Kalibreringsydelserne er DANAK akkrediterede i henhold til ISO 17025.

Laboratorie til printet elektronik

Teknologisk Institut printer blæk til printet elektronik på det digitale udstyr F-series fra Ceradrop.

Faciliteter til måleudstyrskalibrering

På akkrediteterede laboratorier i Brøndby og Vejen foretager FORCE Technology en lang række standardkalibreringer og verifikationer, ligesom her rådgives om kalibrering og måleudstyr.

Radioaktivitets-laboratorium

Radioaktivitets-laboratoriet råder over udstyr til måling af alfa-, beta- og gammastråling, herunder flere væskescintillations-spektrofotometre.