GTS-institutterne bringer ny teknologisk viden i spil i danske virksomheder

Læs mere

Danmarks teknologiske infrastruktur

Overflademåling på mikro- og nanometerskala

Overfladers beskaffenhed har en central betydning for en række danske industrielle styrkepositioner, fx produktion inden for plast, medicin og fødevarer. Virksomhederne har behov for konstant at udvikle nye og bedre overfladeegenskaber i sine produkter og for at kunne dokumentere kvaliteten af disse overflader, herunder, farve, glans, overfladestruktur samt elektriske og mekaniske egenskaber.

Som national metrologi institut er en af DFMs centrale opgaver at sørge for, at målingerne er sporbare til SI enheder og at give denne sporbarhed videre til dansk industri. DFM tilbyder:

  • Kalibrering af gitterperioder fra 0.5 µm til 50 µm med måleusikkerhed ned til 1 nm
  • Kalibrering af stephøjder fra 0.020 µm til 175 µm med måleusikkerhed ned til 1 nm
  • Overfladeruhed med højdeamplituder mellem100 µm og 0.010 µm på en lateral længdeskala fra 1 mm til 0.1 µm
  • En alsidig og ultra nøjagtig udmåling af overfladestruktur og materialeegenskaber med atomic force mikroskop, konfokal- og interferensmikroskopi, bl.a.:
    • Karakterisering af strukturel stabilitet og elasticitet af mikrokrystallers overflader under kontrollerede miljøbetingelser
    • Grænsefladers adhæsionskraft
    • 3D-billeder af overflader

Kalibreringsydelserne af gitterperioder og stephøjder er DANAK akkrediterede i henhold til ISO 17025.

DFM tilbyder også fokusvariation mikroskopi der kan opmåle overfladestruktur hos kunden, dvs. on-site

Målgruppe: Virksomheder inden for produktion af plast, medicin, farma og fødevarer.



Læs mere



Del med dine kolleger