Overflademåling på mikro- og nanometerskala
DFM tilbyder kalibrering af gitterperioder og stephøjder på overflader på mikrometer- og nanometerskala samt en alsidig karakterisering af overfladers optiske, elektriske og mekaniske egenskaber.
Akkrediteret EMC, testfaciliteter - radiodøde rum
FORCE Technology har elektromagnetisk skærmede/radiodøde rum til brug for emissionsmålinger, immunitetstest og ledningsbårne tests af elektrisk udstyr.
Akkrediteret kalibrering af dit måleudstyr
Hos FORCE Technology får du en akkrediteret kalibrering af dit måleudstyr, der kan foregå både on site og i et af vores laboratorier. Drag også nytte af verifikation og rådgivning om dit måleudstyr.
Afprøvning af produkter og materialer i FACT-Lab
FORCE Technology har i 2018 investeret i en række faciliteter til prøvning af produkter og processer - vi har samlet denne udstyrspark i et meget alsidigt FACT-Lab.
Kamerakalibrering
DFM udbyder rumlig kalibrering af billeddannende kameraer, samt spektral kalibrering af hyperspektrale kameraer og farvesensorer
Kalibrering af fiberoptiske instrumenter
DFM har faciliteter til kalibrering af instrumenter til analyse af fiberoptiske netværk, singlemode OTDR og fiberoptiske attenuatorer