Skatterometriske og Ellipsometriske målinger
DFM tilbyder skatterometriske og ellipsometriske opmålinger af tyndfilm med tykkelser mellem 50 nm og 100 µm, samt opmåling af gitre med perioder fra 300 nm til 1000 nm og højder fra 100 nm til 2000 nm.
Vision Lab
Teknologisk Institut har i Vision Lab i Odense flere muligheder for effektivt at hjælpe virksomheder videre med automatiseret kvalitetskontrol, robot-vision eller andre udfordringer.
Laboratorie til printet elektronik
Teknologisk Institut printer blæk til printet elektronik på det digitale udstyr F-series fra Ceradrop.
Center for Anvendt Fotonik
Fotonik er en af de vigtigste teknologier for udvikling af fremtidens produkter. Vores faciliteter giver adgang til innovation, udvikling og test af fremtidsklare fotonikprodukter.
Akkrediteret EMC, testfaciliteter - radiodøde rum
FORCE Technology har elektromagnetisk skærmede/radiodøde rum til brug for emissionsmålinger, immunitetstest og ledningsbårne tests af elektrisk udstyr.
Karakterisering af overflader
På Teknologisk Institut findes faciliteter til analyse og karakterisering af den yderste overflade på materialeprøver.