Ruhed - kalibrering af instrumenter og normaler
DFM har faciliteter til kalibrering af håndholdte ruhedsmålere og ruhedsnormaler med et måleområde fra 0.2 µm til 2.0 µm. Kalibreringsydelserne er DANAK akkrediterede i henhold til ISO 17025.
Skatterometriske og Ellipsometriske målinger
DFM tilbyder skatterometriske og ellipsometriske opmålinger af tyndfilm med tykkelser mellem 50 nm og 100 µm, samt opmåling af gitre med perioder fra 300 nm til 1000 nm og højder fra 100 nm til 2000 nm.
Klimatisk testudstyr - kamre m.v.
FORCE Technology råder over en lang række dedikerede kamre og andre faciliteter til tests i henhold til de fleste produktstandarder og generiske standarder.
Udvikling af plastprodukter
Hos Teknologisk Institut har virksomheder adgang til faciliteter, der bruges til kvalitetssikring af plastprodukter og -komponenter samt til funktionsprøvninger og brugstest.
Testfacilitet til fejlanalyse af mikrochips
FORCE Technology råder over faciliteter i verdensklasse til fejlanalyser af mikrochips.
Ramanspektroskopi
DFM tilbyder, ved brug af Ramanspektroskopi, kvalitativ og kvantitativ bestemmelse af udvalgte materialer på fast form eller i opløsninger. Endvidere tilbydes rådgivning omkring metoder og udstyr til