
Karakterisering af overflader
På Teknologisk Institut findes faciliteter til analyse og karakterisering af den yderste overflade på materialeprøver.

Måling af Relative Intensity Noise (RIN)
DFM tilbyder udmåling af Relative Intensity Noise (RIN), en parameter til karakterisering af lasere. RIN er den relative optisk effekttæthed over et specificeret frekvensområder, opgivet i dBc/Hz

Brugbarhedstest af it-produkt i lab eller on-site
Alexandra Instituttet tilbyder strukturerede tests af it-produkter enten i vores lab eller on-site i brugerens kontekst.

Brændselscelleteknologi
Teknologisk Institut arbejder med at udvikle og implementere mindre brændselsceller i produkter, der kræver høj energitæthed og har et effektforbrug på under 1 Watt.

Overflademåling på mikro- og nanometerskala
DFM tilbyder kalibrering af gitterperioder og stephøjder på overflader på mikrometer- og nanometerskala samt en alsidig karakterisering af overfladers optiske, elektriske og mekaniske egenskaber.

Måling af masse
DFM tilbyder kalibrering af OIML klasse E1 lodder med nominelle masser i området 1 mg – 20 kg med en usikkerhed (k=2) mindre end 1/3 af loddernes tolerance. Kalibreringerne er akkrediterede af DANAK i