GTS-institutterne bringer ny teknologisk viden i spil i danske virksomheder

Læs mere

Danmarks teknologiske infrastruktur

Skatterometriske og Ellipsometriske målinger

Tyndfilm og strukturer med dimensioner på nanometerskala finder anvendelser i halvledere, mikroelektronikske og mikromekaniske systemer, biometriske apparater, samt optiske komponenter. Ikke-destruktiv karakterisering af sådanne strukturer er en vigtig del af kvalitetskontrollen i produktion og i udviklingen af nye produkter.

Skatterometri og ellipsometri er optiske teknikker til bestemmelse materialers egenskaber ud fra målinger af lysets refleksion samt ændringer i lysets polarisationen. Sådanne målinger giver information om materialers optiske egenskaber og tykkelse, samt dimensionerne af optiske gitre. Resultaterne opnås ved at sammenligne den målte polarisationsændring med en model af den fysiske prøve.

DFM udfører ellipsometri og skatterometriske målinger på tyndfilmsprøver og gitre:

  • Tyndfilm: Prøver med diametre fra 1” til 6” og filmtykkelser mellem 50 nm og 100 µm Eksempler på tyndfilmmaterialer inkluderer SiO2, HfO2, polymerer, Si, InP og glas. De bedste resultater opnås for prøver med store forskelle i brydningsindeks og optisk absorption.
  • Silicium gitre: Prøver med diametre fra 1” til 6”, arealer af gitre fra 1 mm2, perioder fra 300 nm til 1000 nm, højder fra 100 nm til 2000 nm.

DFMs ellipsometriske ydelser er målrettet metrologiske anvendelser via sporbarhed til SI meteren. Et gennemarbejdet usikkerhedsbudget tilbydes sammen med måleresultaterne.

De skatterometriske ydelser er målrettet industriel anvendelse og inkluderer målehastigheder ned til 10 ms. Udstyret er transportabelt, og målinger kan udføres hos kunden.

Målgruppe: Tyndfilmfabrikanter i halvlederindustrien, hurtig produktion inden for plastindustri og roll-to-roll fabrikation, samt producenter af optiske gitre til bl.a. telekomindustrien.



Læs mere



Services og ydelser tilknyttet faciliteten


Del med dine kolleger
Fra samme kategori

Brændselscelleteknologi

Teknologisk Institut arbejder med at udvikle og implementere mindre brændselsceller i produkter, der kræver høj energitæthed og har et effektforbrug på under 1 Watt.

Opformering af alger

Teknologisk Institut stiller en række udviklings- og testfaciliteter til rådighed for virksomheder, der arbejder med kommerciel algeproduktion.

Ramanspektroskopi

DFM tilbyder, ved brug af Ramanspektroskopi, kvalitativ og kvantitativ bestemmelse af udvalgte materialer på fast form eller i opløsninger. Endvidere tilbydes rådgivning omkring metoder og udstyr til

Facadetesthal til test af facadesystemer m.m.

DBI tilbyder fuldskala-facadetests efter SP Fire 105-standarden i instituttets facadetesthal.

Identifikation af fremmed materiale i produkter

Teknologisk Institut har stor erfaring med undersøgelser, der identificerer fremmed materiale i produkter. Vi undersøger mere end 1.000 prøver af fremmed materiale hvert år.

Overflademåling på mikro- og nanometerskala

DFM tilbyder kalibrering af gitterperioder og stephøjder på overflader på mikrometer- og nanometerskala samt en alsidig karakterisering af overfladers optiske, elektriske og mekaniske egenskaber.