GTS-institutterne bringer ny teknologisk viden i spil i danske virksomheder

Læs mere

Danmarks teknologiske infrastruktur

Testfacilitet til fejlanalyse af mikrochips

Som en del af FORCE Technologys faciliteter i Hørsholm (tidligere DELTA) ligger en af nordens største, uafhængige faciliteter til fejlanalyse af mikrochips/halvledere. Fejlanalyse bruges, hvis en mikrochip har fejlet og der er behov for at finde fejlens årsag. 

Testfaciliteten består samlet af en lang række konkrete faciliteter som renrum og røntgenudstyr, og kan udføre tests ved følgende teknikker: 

  • Microsectioning
  • Real time X-ray
  • Hot spot analysis
  • Solderability tests
  • Sub-micron probing
  • Chemical and plasma etching
  • Scanning electron microscopy
  • Scanning acoustic microscopy
  • Energy dispersive ana­lysis of X-ray
  • Gross and fine leak hermeticity testing
  • Bright/dark field, differential interference, light sectioning, and stereo microscopy
  • Environmental testing (tempe­rature, shock, humidity, corrosion, vibration)

Testfaciliteten er bl.a. udstyret med automatisk testudstyr (ATE) og høj-temperatur testere: 

  • Component testers (ATE)
  • Wafer probers
  • Component handlers
  • Dynamic burn-in chambers


Læs mere



Del med dine kolleger